DẤU ẤN GEN CỦA LICHEN PHẲNG MIỆNG QUA PHÂN TÍCH DỮ LIỆU PHIÊN MÃ - Phúc, Võ Thị Duy; Youngnim, Choi (Tạp Chí Khoa học Trường Đại học Quốc tế Hồng Bàng, 2024)
Lichen phẳng miệng (LPM) là một trong những bệnh lý niêm mạc miệng phổ biến nhất, nhưng vẫn chưa có cách chữa. Nghiên cứu này nhằm hiểu rõ hơn về dấu ấn gen trong sinh bệnh học LPM thông qua phân tích các bộ dữ liệu phiên mã có sẵn trong cơ sở dữ liệu công cộng. Hai tập dữ liệu phiên mã được tải xuống và phân tích theo hai hướng: toàn bộ hoặc một phần dữ liệu sau khi loại bỏ các ngoại lai. Các gen biểu hiện khác biệt (DEG) tăng điều hoà trong bộ dữ liệu biểu mô LPM so với người khỏe mạnh về phát triển biểu bì, biệt hóa tế bào sừng, sừng hóa, phản ứng với nhiễm khuẩn và phản ứng miễn dịch bẩm sinh. Ngược lại, DEG tăng điều hoà trong bộ dữ liệu của toàn bộ lớp niêm mạc LPM chủ yếu phản ánh hoá ứng động của tế bào miễn dịch và phản ứng viêm/miễn dịch. 43 DEG trùng lặp trong hai tập dữ liệu được xác định sau khi loại bỏ các ngoại lai khỏi mỗi tập dữ liệu. Các DEG chung liên quan đến tăng sừng, lành thương, khiếm khuyết hàng rào biểu mô và phản ứng với nhiễm khuẩn. Tóm lại, chúng tôi xác định được các dấu ấn gen liên quan đến sự tăng sừng, lành thương, khiếm khuyết hàng rào biểu mô và phản ứng với nhiễm trùng trong LPM.